一、x射線熒光光譜儀測什么的

X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，會放射出特征X光；不同的元素會放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波長特性。檢測器（Detector）接受這些X光，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對應的信號。這一現(xiàn)象廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在研究金屬，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化學研究、法醫(yī)學、電子產(chǎn)品進料品管（EURoHS）和考古學等領域，在某種程度上與原子吸收光譜儀互補，減少工廠附設的品管實驗室之分析人力投入。

二、X射線熒光光譜儀如何檢測樣品中的金屬元素

當使用X射線光照樣品時，樣品可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，就可以進行定性和定量分析，為此使用的儀器為X射線熒光光譜儀（以下簡稱XRF）。

實驗室如何利用XRF這種較為成熟的分析技術(shù)檢測固體樣品中的金屬元素？實驗室將拿到的試樣過200目篩，按照提供的方法進行制樣，從中選擇能覆蓋分析元素含量范圍并具有一定梯度的樣品，經(jīng)化學方法準確定值后，與同樣粒度的3個標準樣品一起分別壓片用于建立工作曲線。

方法采用壓片法，根據(jù)不同的壓力對樣品進行壓片，做壓力與樣品元素強度試驗，確定壓力和保壓時間。（分析合金樣品過程中粒度效應是影響熒光光譜儀結(jié)果的主要主要因素之一，需要通過固定破碎試樣的克數(shù)與研磨時間來保持試樣與分析試樣粒度一致，確定研磨時間。）

輸入各元素的化學值，用熒光光譜儀測定其強度，以元素化學值為橫坐標，強度為縱坐標，分別建立一次作曲線，并得到相應的的回歸情況，得到結(jié)果元素的相對標準偏差RSD<1％，這表明用XRF測定這些固體樣品金屬元素有很好的分析精度。整個檢測過程快速、準確，不需要化學方法對樣品進行前處理，同時可以實現(xiàn)多元素分析，并可以替代復雜的檢測方法。

XRF適合用于元素分析和化學分析，理論上可以測定元素周期表中從F-U（除去惰性氣體一族）的元素，分析范圍廣，可分析濃度范圍從1μg/g～100%?？捎糜冢ǖ幌抻冢嶒炇覚z測依據(jù)的部分標準方法包括：

GB/T 21114-2019耐火材料 X射線熒光光譜化學分析 熔鑄玻璃片法。

YS/T 575.23-2009 鋁土礦石化學分析方法 第23部分：X射線熒光光譜法測定元素含量。

GB/T 6609.30-2009 氧化鋁化學分析方法和物理性能測定方法 第30部分：X射線熒光光譜法測定微量元素含量等。

在研究金屬、玻璃、地質(zhì)、建筑材料等領域，X射線熒光光譜儀是較為常見的非破壞性元素分析方法，由于可直接分析固體或者是液體試樣，進行非破壞分析，適用場景較多，在元素分析領域是一種切實可行的檢測方法。實驗室X射線熒光光譜儀XRF可以測量樣品中的金屬元素組成，對送樣的需求需要進行進一步的溝通。